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Centre de Recherche en Technologie des Semi-conducteurs pour l’Energétique CRTSE

Adresse: Centre de Recherche en Technologie des Semi-conducteurs pour l’Energétique CRTSE

E-mail: direction@crtse.dz

Téléphone: 023 49 56 29

Catégorie: MESRS

Nombre de services : 11

Nombre d'équipement : 14

Nombre de prestations : 232

Description

The C.R.T.S.E develops disciplines that will have an impact on some socio-economic sectors. Its mission is to lead scientific research, technological innovation, valorization and post- graduate training in the field of materials science and technology and also semi-conductors devices, covering various applications areas including: energy conversion, photovoltaic and energy storage, sensing, optoelectronics and photonics. The Center actively contributes to the development of knowledge and its transformation into technological know-how and products for economic and societal development.

caractérisation APC-IMS4FE/CRTSE
La spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
caracterisation APC-250/CRTSE
Méthode de spectrométrie photo électronique
caractérisation APC -7610/CRTSE
Microscope électronique à Balayage de haute résolution
Microscope électronique à Balayage de haute résolution OP- FL3-DFX-iHR320/CRTSE
technique d’analyse in situ non destructive Permettant de détecter tous les éléments à partir du Béryllium
caractérisation FTIR/ATR
La spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier
caractérisation MEES – 500/CRTSE
mesure d'épaisseur
caractérisation OP-ELX-02 C00PC
Le Cary 500 est doté d’un double monochromateur en double faisceaux
caractérisation MEES- MTCA/CRTSE
L’angle de contact est une mesure de la capacité d’un liquide à mouiller la surface d’un solide
caractérisation PR- HL59/CRTSE
Le profileur à effet Hall HL5900PC est un protocole de mesure complètement
caractérisation OP-01Oriel
OP-01Oriel
caractérisation MEES- ELX-02 /CRTSE
a connaissance de la réponse en courant, pour chaque éclairement monochromatique composant le spectre lumineux
SIMS APC-IMS4FE/CRTSE
La spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux
XPS APC-250/CRTSE
Méthode de spectrométrie photo électronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X
MEB APC -7610/CRTSE
Le JSM-7610FPlus est un microscope électronique à Balayage de haute résolution, il intègre un ensemble de détecteurs d’électrons secondaires, d’électrons rétrodiffusés, et équipé d’EDS et EBSD
EPMA OP- FL3-DFX-iHR320/CRTSE
Une technique d’analyse in situ non destructive Permettant de détecter tous les éléments à partir du Béryllium dans un volume de l’ordre du micromètre cube avec une sensibilité d’environ 100 ppm
Banc Photolimzniscence APC- 230/CRTSE
Le banc de photoluminescence FL3-DFX-iHR320 performant et sophistiqué de dernière génération qui vous permis d’exploité la meure dans les meilleurs conditions avec des résultats très fiables, Trois sources d'excitation différentes
FTIR/ATR FTIR/CRTSE
La spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier ou spectroscopie IRTF, est une technique utilisée pour obtenir le spectre d'absorption, d'émission, la photoconductivité dans l'infrarouge d'un échantillon solide, liquide.et poudre
Profilomètre MEES – 500/CRTSE
Spectrophotomètre OP-ELX-02 C00PC
Le Cary 500 est doté d’un double monochromateur en double faisceaux dont la forme spectrale s’étend de 175 nm à 3300 nm.
ECV PR- PN4300 /CRTSE
Effet hall PR- HL59/CRTSE
Le profileur à effet Hall HL5900PC est un protocole de mesure complètement automatisé par PC, destiné à la caractérisation de couches semiconductrice
Ellipsomètre MEES- ELX-02 /CRTSE
L’Ellipsométrie est une technique optique d’analyse de surface fondée sur la mesure du changement de l’état de polarisation de la lumière après réflexion sur une surface plane
Angle de contact MEES- MTCA/CRTSE
L’angle de contact est une mesure de la capacité d’un liquide à mouiller la surface d’un solide. La forme que prend une goutte sur une surface dépend de la tension superficielle du fluide et de la nature de la surface
Simulateur solaire OP-01Oriel
Le schéma optique du simulateur solaire réalisé. La lampe d’arc de xénon est utilisée comme source de lumière. Le miroir elliptique (Oriel, traité) et le miroir plat dirigent le flux de lumière vers l’intégrateur et vers les filtres optiques
Réponse spectrale OP- M619
La connaissance de la réponse en courant, pour chaque éclairement monochromatique composant le spectre lumineux, nous permet généralement d'apprécier la qualité des différentes zones de la cellule solaire.