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Centre de Recherche en Technologie des Semi-conducteurs pour l’Energétique CRTSE

Adresse: Centre de Recherche en Technologie des Semi-conducteurs pour l’Energétique CRTSE

E-mail: direction@crtse.dz

Téléphone: 023 49 56 29

Catégorie: MESRS

Nombre de services : 11

Nombre d'équipement : 14

Nombre de prestations : 175

Description

The C.R.T.S.E develops disciplines that will have an impact on some socio-economic sectors. Its mission is to lead scientific research, technological innovation, valorization and post- graduate training in the field of materials science and technology and also semi-conductors devices, covering various applications areas including: energy conversion, photovoltaic and energy storage, sensing, optoelectronics and photonics. The Center actively contributes to the development of knowledge and its transformation into technological know-how and products for economic and societal development.

caractérisation	APC-IMS4FE/CRTSE	La spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
caracterisation	APC-250/CRTSE	Méthode de spectrométrie photo électronique
caractérisation	APC -7610/CRTSE	Microscope électronique à Balayage de haute résolution
Microscope électronique à Balayage de haute résolution	OP- FL3-DFX-iHR320/CRTSE	technique d’analyse in situ non destructive Permettant de détecter tous les éléments à partir du Béryllium
caractérisation	FTIR/ATR	La spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier
caractérisation	MEES – 500/CRTSE	mesure d'épaisseur
caractérisation	OP-ELX-02 C00PC	Le Cary 500 est doté d’un double monochromateur en double faisceaux
caractérisation	MEES- MTCA/CRTSE	L’angle de contact est une mesure de la capacité d’un liquide à mouiller la surface d’un solide
caractérisation	PR- HL59/CRTSE	Le profileur à effet Hall HL5900PC est un protocole de mesure complètement
caractérisation	OP-01Oriel	OP-01Oriel
caractérisation	MEES- ELX-02 /CRTSE	a connaissance de la réponse en courant, pour chaque éclairement monochromatique composant le spectre lumineux

SIMS	APC-IMS4FE/CRTSE	La spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux
XPS	APC-250/CRTSE	Méthode de spectrométrie photo électronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X
MEB	APC -7610/CRTSE	Le JSM-7610FPlus est un microscope électronique à Balayage de haute résolution, il intègre un ensemble de détecteurs d’électrons secondaires, d’électrons rétrodiffusés, et équipé d’EDS et EBSD
EPMA	OP- FL3-DFX-iHR320/CRTSE	Une technique d’analyse in situ non destructive Permettant de détecter tous les éléments à partir du Béryllium dans un volume de l’ordre du micromètre cube avec une sensibilité d’environ 100 ppm
Banc Photolimzniscence	APC- 230/CRTSE	Le banc de photoluminescence FL3-DFX-iHR320 performant et sophistiqué de dernière génération qui vous permis d’exploité la meure dans les meilleurs conditions avec des résultats très fiables, Trois sources d'excitation différentes
FTIR/ATR	FTIR/CRTSE	La spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier ou spectroscopie IRTF, est une technique utilisée pour obtenir le spectre d'absorption, d'émission, la photoconductivité dans l'infrarouge d'un échantillon solide, liquide.et poudre
Profilomètre	MEES – 500/CRTSE
Spectrophotomètre	OP-ELX-02 C00PC	Le Cary 500 est doté d’un double monochromateur en double faisceaux dont la forme spectrale s’étend de 175 nm à 3300 nm.
ECV	PR- PN4300 /CRTSE
Effet hall	PR- HL59/CRTSE	Le profileur à effet Hall HL5900PC est un protocole de mesure complètement automatisé par PC, destiné à la caractérisation de couches semiconductrice
Ellipsomètre	MEES- ELX-02 /CRTSE	L’Ellipsométrie est une technique optique d’analyse de surface fondée sur la mesure du changement de l’état de polarisation de la lumière après réflexion sur une surface plane
Angle de contact	MEES- MTCA/CRTSE	L’angle de contact est une mesure de la capacité d’un liquide à mouiller la surface d’un solide. La forme que prend une goutte sur une surface dépend de la tension superficielle du fluide et de la nature de la surface
Simulateur solaire	OP-01Oriel	Le schéma optique du simulateur solaire réalisé. La lampe d’arc de xénon est utilisée comme source de lumière. Le miroir elliptique (Oriel, traité) et le miroir plat dirigent le flux de lumière vers l’intégrateur et vers les filtres optiques
Réponse spectrale	OP- M619	La connaissance de la réponse en courant, pour chaque éclairement monochromatique composant le spectre lumineux, nous permet généralement d'apprécier la qualité des différentes zones de la cellule solaire.